Kühnert, R., B. Michel, and W. Trotzauer. 2020. “Ein Verfahren Zur Rasterelektronenmikroskopischen Verschiebungsmessung in Der Mikromechanik”. Technische Mechanik - European Journal of Engineering Mechanics 6 (4):37-40. https://journals.ub.ovgu.de/index.php/techmech/article/view/1679.