Zur optimalen Parametrisierung der Lagerkennlinie nach Nyhuis/Wiendahl

Abstract

Mit dem von P. Nyhuis und H.-P. Wiendahl entwickelten Konzept der logistischen Kennlinien ist das Ziel verbunden, den Zusammenhang zwischen verschiedenen Kenngrößen eines logistischen Systems mit einem einfachen Funktionsverlauf hinreichend genau abzubilden. Im Rahmen von Lagerkennlinien soll dabei die Beziehung zwischen den Kenngrößen Bestandshöhe und Lieferverzug in einem Lagersystem wiedergegeben werden. Ausgehend von der exakten Darstellung des entsprechenden Zusammenhangs in einem idealisierten, deterministischen Umfeld empfehlen die Autoren, diese Beziehung in einer realen, durch stochastische Störeinflüsse geprägten Umwelt approximativ durch eine einfache Anpassung des unter deterministischen Bedingungen ermittelten Funktionsverlaufs zu beschreiben. Eine entscheidende Rolle spielt hierbei ein Parameter, der die Krümmung der Lagerkennlinie kennzeichnet. Im vorliegenden Beitrag wird gezeigt, wie mittels einer lagerhaltungstheoretischen Analyse eine Optimierung dieses Parameters für vorgegebene Wahrscheinlichkeitsverteilungen der Störgrößen vorgenommenen werden kann. Daraus lassen sich allgemeine Hinweise darauf ableiten, wie Lagerkennlinien in Abhängigkeit von wesentlichen Eigenschaften der hinter realen Planabweichungen steckenden stochastischen Störungen (wie Ausmaß von Streuung und Schiefe der entsprechenden Wahrscheinlichkeitsverteilungen) bestmöglich zu parametrisieren sind.